Microscopía de Fuerza Atómica.

Definición: Tipo de microscopía de sonda de barrido en la que la sonda se monta sistemáticamente sobre la superficie de una muestra que está siendo barrida con un patrón en forma de red. La posición vertical se registra a medida que un muelle, que está unido a la sonda, se eleva y cae en respuesta a los picos y valles que están sobre la superficie. Estas deflexiones producen un mapa topográfico de la muestra.

En castellano: Microscopía de Fuerza Atómica.

En inglés: Microscopy, Atomic Force.

En portugués: Microscopia de Força Atômica.

Descriptores relacionados: Microscopía de Túnel de Rastreo.

Sinónimos: Microscopía de Fuerza de Rastreo, Microscopía de Sonda de Rastreo, Microscopía de Fuerza, Microscopía de Fuerza de Barrido.

Calificadores permitidos: clasificación, economía, historia, normas, veterinaria, estadística & datos numéricos, ética, utilización, tendencias, instrumentación, métodos.